《鍺單晶位錯密度的測試方法》（GB/T5252-2020）【全文附高清無(wú)水印PDF版下載】

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標準號：GB/T5252-2020

中文標準名稱(chēng)：鍺單晶位錯密度的測試方法

英文標準名稱(chēng)：Test method for dislocation density of monocrystal germanium

中國標準分類(lèi)號（CCS） H21 國際標準分類(lèi)號（ICS） 77.040

發(fā)布日期 2020-06-02 實(shí)施日期 2021-05-01

主管部門(mén) 國家標準化管理委員會(huì ) 歸口單位 全國半導體設備和材料標準化技術(shù)委員會(huì )

發(fā)布單位 國家市場(chǎng)監督管理總局、中國國家標準化管理委員會(huì )





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本文關(guān)鍵詞： 單晶, 密度, 測試, 方法, GB, 2020, 全文, 高清, 水印, PDF版, 下載